1734-TB3   卡件 

 
维修经验总结 
一.带程序的芯片 
1.EPROM芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 
故在测试中不会损坏程序.但有资料介绍:因制作芯片的材料所致,随着 
时间的推移(年头长了),即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要 
尽可能给以备份. 
2.EEPROM,SPROM等以及带电池的RAM芯片,均极易破坏程序.这类芯片 
是否在使用<测试仪>进行VI曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定 
论.尽管如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过 
多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电 
所致. 
3.对于电路板上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来. 
二.复位电路 
1.待修电路板上有大规模集成电路时,应注意复位问题. 
2.在测试前装回设备上,反复开,关机器试一试.以及多按几次复 
位键. 

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1734-232ASC

1734-485ASC

1734-ACNR

1734-ADN

1734-AENT

1734-AENTR

1734-APB

1734-ARM

1734-CTM

1734-EP24DC

1734-FPD

1734-IA2

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1734-IB2

1734-IB4

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1734-IB8S

1734-IE2C

1734-IE2V

1734-IE4C

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1734-IJ

1734-IK

1734-IM2

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1734-IR2

1734-IR2E

1734-IT2I

1734-IV2

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1734-OA4

1734-OB2

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1734-OB2EP

1734-OB4

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1734-OB8

1734-OB8E

1734-OB8S

1734-OE2C

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1734-OV2E

1734-OV4E

1734-OV8E

1734-OW2

1734-OW4

1734-OX2

1734-PDN

1734-RTB

1734-RTB3

1734-RTB3S

1734-RTBCJC

1734-RTBS

1734-SSI

1734-TB

1734-TB3

1734-TB3S

1734-TBCJC

1734-TBS

1734-TOP

1734-TOP3

1734-TOP3S

1734-TOPS

1734-VHSC24

1734-VHSC5

1734-VTM

Allen-Bradley（罗克韦尔），Schneider（施耐德），Siemens（西门子），GE（通用电气），ABB，
Omron（欧姆龙），IFM（易福门），Emerson（艾默生），Fanuc（发那科），Foxboro（福克斯波罗），
Westinghouse（西屋），Honeywell（霍尼韦尔），Panasonic（松下），Mitsubsihi（三菱），
Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（贝加莱），Danfoss（丹佛斯）
，Fuji（富士），Festo（费斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（横河），
Heidenhain（海德汉），Hydac（贺德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（库卡），Kollmorgen（科尔摩根），Lenze（伦茨），Rosemount（罗斯蒙特），LG，LS（产电），
Rexroth（力士乐），Leuze（劳易测），Norgren（诺冠），Pilz（皮尔兹），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（台达），Turck（图尔克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊顿）
,bently (本特利）