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| 品牌：GE | 型号：IAP-..25.3.2 | 频率：0.25M Hz | ||||
| 功率：10 W | 破碎容量：12 ml | 占空比：20 | ||||
| 电源：3 V | 外形尺寸：9*9 mm | 重量：0.03 kg | ||||
| 用途：超声波探头 |
A-..和IAP-..：用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测，有非常高的分辨率，这些缺陷在零部件表面下分布展开：例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地，它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试，以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。
接触式和水浸式接触法探头
直射线---单晶
?被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
?接触面或平或曲
?缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
?透透厚部件
?逐步块改善提高近场分辨率
?需要聚合层，一般为凝胶，油类，浆糊
?通常用于手动检测
直探头---双晶
?接受发射单元用串扰挡板分开
?缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
?近表面分辨率好，用于较薄部件
?需要聚合层，一般为凝胶，油类，浆糊
?通常用于手动检测
斜探头
?芯片安装在内置的或可更换的斜块上
?利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
?大多数标准探针通过模式转换产生横波
?有所倾斜的缺陷的检测，如焊缝
?有单晶探头和双晶探头
?需要聚合层，一般为凝胶，油类，浆糊
?有时用于机械化或自动化检测2个换能器选择标准和性能
| 压电高聚物高频直探头 | 特性：非常高的分辨率，聚焦声束宽度非常小 |
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IAP-..25.2.0.5 IAP-..25.2.1 IAP-..25.3.1 IAP-..25.3.2 IAP-..50.2.0.3 IAP-..50.2.0.5 IAP-..50.2.1 IAP-..50.3.1 IAP-..50.3.2 |
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IA-..25.2 IA-..25.3 IA-..50.2 IA-..50.3 |
