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新的MINITEST 700产品线，加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的领导地位。 -创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性 -测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头 -FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体，操作方便不易出错
技术参数
主机型号
MINITEST 720
MINITEST 730
MINITEST 740
探头类型
内置
外置
内置外置可换
数据记忆组数
10
100
存储数据量
最多10,000个
最多100,000个
统计值
读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合国际标准和规范
ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准
校准模式
出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控
声、光报警提示超过极限
测量单位
μm，mm，cm；mils，inch，thou
操作温度
-10℃~60℃
存放温度
-20℃~70℃
数据接口
IrDA 1.0(红外接口)
电源
2节AA电池
标准
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
体积
157mm x 75.5mm x 49mm
重量
约175g
约210g
约175g(内置)/230g(外置)
探头：
探头特性
F1.5，N0.7，FN1.5
F2
F5，N2.5，FN5
F15
F
N
测量范围
0~1.5mm
0~0.7mm
0~-2mm
0~5mm
0~2.5mm
0~15mm
使用范围
小工件，薄涂层
粗糙表面
标准探头，使用广泛
厚涂层
测量原理
磁感应
电涡流
信号处理
探头内部32位信号处理(SIDSP)
精确度
±(1μm+0.75%)
±(1.5μm+0.75%)
±(5μm+0.75%)
重复性
±(0.5μm+0.5%)
±(0.8μm+0.5%)
±(2.5μm+0.5%)
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
最小曲率半径(凸)
1.0mm
1.5mm
5mm
最小曲率半径 (凹，外置探头)
7.5mm
10mm
25mm
最小曲率半径 (凹，内置探头)
30mm
最小测量面积
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
最小基体厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
1mm
连续模式下测量速度
每秒20个读数
单值模式下最大测量速度
每分钟70个读数
MINITEST700系列涂层测厚仪标准配置
-MINITEST 720(内置探头) --或MINITEST 730(外置探头) --或MINITEST 740主机(不含探头，有各种探头可选) -校准套装含校准片和零板 -操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语 -中文说明书 -2节AA电池 -便携软包
推荐配件
-F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
