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屏蔽箱隔离度测试方法介绍：



  1、检测屏蔽隔离度设备：网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、偶极天线、喇叭天线、屏蔽箱。



  由于产能的要求，通常射频测试工艺由多个相同的测试站并行运行。某个或某些测试工位的通过率偏低;产出降低就会导致产线瓶颈、生产成本剧增，而究其原因，大致可分为： 产品设计或物料原因、测试的问题(误测问题)、射频干扰等环境因素、测试的不确定问题。



  电磁干扰/EMI是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如：手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。



  2、测试标准、屏蔽概念：指模拟干扰源置于屏蔽箱外时，屏蔽箱置放前后的空间某点电场强度、磁场强度或功率之比再取对数(lgp1/p2)，用dB表示。



  如果要标1500V隔离屏蔽，则1500V测试时辐射、屏蔽、绝缘电阻>300K，



  如果要标3000V隔离屏蔽，则3000V测试时辐射、屏蔽、绝缘电阻>600K屏蔽箱隔离度测试方法介绍：



  1、检测屏蔽隔离度设备：网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、偶极天线、喇叭天线、屏蔽箱。



  由于产能的要求，通常射频测试工艺由多个相同的测试站并行运行。某个或某些测试工位的通过率偏低;产出降低就会导致产线瓶颈、生产成本剧增，而究其原因，大致可分为： 产品设计或物料原因、测试的问题(误测问题)、射频干扰等环境因素、测试的不确定问题。



  电磁干扰/EMI是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如：手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。



  2、测试标准、屏蔽概念：指模拟干扰源置于屏蔽箱外时，屏蔽箱置放前后的空间某点电场强度、磁场强度或功率之比再取对数(lgp1/p2)，用dB表示。



  如果要标1500V隔离屏蔽，则1500V测试时辐射、屏蔽、绝缘电阻>300K，



  如果要标3000V隔离屏蔽，则3000V测试时辐射、屏蔽、绝缘电阻>600K
屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段，这也可能是最重要的阶段。不幸的是，测试过程被认为是麻烦的或在某种程度上被认为是不可思义,事实上，屏蔽室的测试标准是一致的。

主要的区别在于测试所用的设备不同。

事实上，屏蔽效能测试很简单，并与MIL-STD-220也就是插入损耗测试标准是一致的。主要的区别在于测试所用的设备不同。
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屏蔽房屏蔽效能测试基本同于电子测试设备的校准。与测试设备一样，当小型屏蔽房的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准。当校准屏蔽房或测定屏蔽暗室的屏蔽效能时，要使用辐射测试技术。所幸的是美国军方和安全部门已建立了相应的标准。这些标准描述了特定频率和测试场地条件下的测试方法、设备和测试过程。这些测试过程经过微小的调整，就能应用于任何屏蔽房的安装，并满足用户要求。

测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是MIL-STD-285和NSA65-6。这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求。每个程序中也规定了测试频率和衰减量。
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