无锡镀层成分分析
无锡镀层成分分析
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      报告专业权威,国际认可

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      主要应用于各种固体材料体相杂质的直接测量,包括镀层,涂层和薄膜,也就是用于纯度分析和杂质分析

      检测面积:40200平方毫米(消耗50微米厚度的样品)

      检测极限:ppb 级别 

      检测范围:73种元素

      主要适合以下产品:

      高纯材料

      合金

       

      碳及石墨材料

       

      半导体材料  (硅)

       

      氧化物,碳化物,及陶瓷材料

       

      粉末状样品

       

      损坏面积:厚度50微米,面积

       

      块状样品:大于20mm

       

      尺寸不足的样品(粉末颗粒等)增加制样费1000

       

      (因为需要用到79的铟)

       

      金属样品     rmb  4500

       

      半导体样品(si ,GaAs   rmb 5000

       

      非导体(氧化物,碳化物,石墨,陶瓷材料)  rmb  5500

       

       

      如指定元素小于等于25,费用分别是以上费用的0.8倍。

       

       

       

      AES(auger)

       

      针对导体和半导体

       

      表面颗粒的分析

       

      小区域污染物的发现和判定

       

      材料薄层纵向分布分析

       

      原理雷同eds ,只是能量稍小。

       

       

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